半導體hast老化試驗箱熊s又稱高溫高濕高壓試驗機，廣泛應用于半導體，多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

半導體hast老化試驗箱熊s性能：  

1．設(shè)定溫度：+100℃～+147℃(蒸氣溫度)  

2．濕度範圍：75~蒸氣濕度(在47℃度時濕度高為75%）  

3．濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH  

4．使用壓力：1.2~2.89kg(含1atm)  

5．時間範圍：0Hr～999Hr  

6．加壓時間：0.00Kg～1.04Kg/cm2約45分  

7．溫度波動均勻度：±0.5℃  

8．溫度顯示精度：0.1℃  

9．壓力波動均勻度：±0.1Kg  

10．濕度分佈均度：±3%RH

試驗箱實驗條件：  

1．設(shè)定溫度：+100℃～+135℃(飽和蒸氣溫度)  

2．濕度范圍：75~飽和蒸氣濕度0Kg～3.5Kg/cm2(內(nèi)桶設(shè)計耐壓4Kg/cm  

3．時間范圍：000Hr～999Hr  

4．加壓時間：0.00Kg～1.04Kg/cm2約45  

5．測試條件：溫度121℃,RH飽和蒸氣,壓力1.04Kg/c㎡  

半導體hast老化試驗箱裝置特點介紹：  

1．裝置內(nèi)壓力越大的時候PCT高壓測試儀蒸煮設(shè)備箱門唿吁反壓導致其與箱體更加緊密結(jié)合,不同于的傳統(tǒng)擠壓式,可延長packing的壽命。  

2．裝置非常好的臨界點LIMIT方式自動安全保護,在出現(xiàn)異常塬因和故障指示燈都會顯示，能夠好的避免因為異常導致?lián)p失，甚至導致今天損壞。  

3．裝置采用的是自動門禁，們的自動自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制有這安全門把設(shè)計已申請在箱內(nèi)中若出現(xiàn)大于常壓時，測試門會被保護。

試驗箱用途：

半導體hast老化試驗箱又稱高溫高濕高壓試驗機，廣泛應用于半導體，多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

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